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[判断题]

衬底电流及寄生双极管效应发生的原因可能是沟道横向电场过强。()

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第1题

以n沟增强型MOSFET为例,以下关于沟道长度调变效应的说法错误的是()。

A.沟道长度调变效应指的是增加,出现夹断点,沟道长度减小,从而导致漏-源饱和电流增加

B.沟道长度调变效应会使MOS输出特性曲线饱和区段发生倾斜,输出阻抗降低

C.由于沟道长度调变效应,在n型沟道中运动的电子到达夹断处时,会被耗尽区电场扫进漏区,从而导致增益变小

D.沟道长度调变效应的工作机理与双极型晶体管的基区宽度调变效应有些相似

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第2题

以下会使DIBL效应最明显的条件是()。

A.沟道长度越长,衬底掺杂浓度越大

B.沟道长度越长,衬底掺杂浓度越小

C.沟道长度越短,衬底掺杂浓度越大

D.沟道长度越短,衬底掺杂浓度越小

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第3题

短沟道效应会导致的后果不包括的是()。

A.阈值电压降低,器件特性改变

B.亚阈值特性变差,漏电流更加明显

C.漏极电子发生倍增,形成衬底电流

D.沟道电阻降低,饱和电流上升

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第4题

双极型晶体管做共发射极连接使用时,Early效应能有效调节集电极电流大小,使晶体管工作稳定。()
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第5题

热载流子效应引起的影响不包括()。

A.碰撞电离产生衬底电流而使衬底电势起伏

B.热电子跨越Si-SiO2势垒,被注入栅介质

C.漏极电流增大而形成雪崩击穿

D.发射出光子,形成光发射电流

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第6题

下列不会加重漏致势垒降低效应的是()

A.减小沟道长度

B.增大衬底掺杂浓度

C.增大衬底偏压

D.增大栅氧化层电容

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第7题

场效应晶体管是利用改变平行于导电沟道的电场强度来控制沟道的导电能力而实现放大作用的。()
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第8题

长沟道器件的源漏电流与沟道长度的倒数成正比。()
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第9题

电力晶体管GTR是电流控制型双极功率晶体管。()
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第10题

综合致热型设备发热的原因可能包括电流效应、电磁效应、电压效应。()
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